Innovative Kombination aus Vakuum- und Wafertisch für Kontaktwinkelmessungen

Neues Zubehör sorgt für optimale Handhabung von folienartigen Proben und von Wafern

Mit zwei neuen, einzeln verwendbaren und kombinierbaren Probentischlösungen für unsere Drop Shape Analyzer – DSA100 und DSA30 haben wir die Handhabung von weichen und biegsamen  Proben sowie von Wafern bei der Kontaktwinkelmessung optimiert.

Vakuumtisch ST3210 zur Schaffung einer ebenen Probenfläche

Der Vakuumtisch ST3210 saugt Proben, die einfach auf die große, luftdurchlässige Tischfläche gelegt werden, gleichmäßig an. Bei der Messung auf Folien, aber auch bei Proben mit nur geringer Elastizität oder Weichheit sorgt der Tisch so für eine plane, einfach analysierbare Oberfläche. Er kann flexibel auf horizontale Bewegungsachsen oder eine Rotationsachse montiert werden.

Spezial-Tischplatte ST3271 für Wafer; kombiniert mit Vakuumtisch oder einzeln

Die Probentischplatte ST3271 verwandelt den Vakuumtisch mit wenigen Handgriffen in einen Spezialprobentisch für die Oberflächenanalyse von Wafern. Durch die Lochung der Tischplatte hindurch hält das Vakuum den Wafer sicher in Position und verhindert das Verrutschen der sehr glatten Waferoberfläche. Die Platte verfügt zudem über einen Slot zum Positionieren, der mit Standardgrößen von Wafertips kompatibel ist. Um die Probe auf einfache Weise zu zentrieren, lässt sich die Tischfläche mit Hilfe von einsetzbaren Pins an Wafer unterschiedlicher Normgrößen sowie andere runde Proben adaptieren.

Besonders effizient ist der Probentischaufbau für Wafer bei einer Mapping-Messung mit unserer Software ADVANCE. Dabei können Tropfen vollautomatisch auf programmierte Positionen der Probe dosiert und dort analysiert werden. So lässt sich zum Beispiel die Homogenität der Reinigung einer Probenfläche in einem einzigen Messablauf ohne Benutzereingriffe ermitteln.

Die Probetischplatte ST3271 für Wafer ist auch ohne den Vakuumtisch verwendbar und kann dazu direkt auf eine Rotationsachse aufgesetzt werden.